12月28日下午，高德英特(北京)科技有限公司的鞠焕鑫博士应光伏院邀请，为师生做了题为“表面分析技术(XPS/UPS/LEIPS)特点及其在光电器件研究中的应用”的学术报告。鞠焕鑫博士毕业于中国科学技术大学，后在国家同步辐射实验室从事博士后研究，曾从事软X射线谱学方法学研究以及能源材料/器件界面电子性质研究，与其他研究者合作在Science, Nature Photonics, Nature Chemistry, Nature Energy, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater等期刊发表学术论文百余篇；主持/参与国家自然科学基金委青年科学基金、大科学装置联合基金培育项目和重点项目、国家重点研发计划等多个国家级科研项目，现任高德英特(北京)科技有限公司应用专家，负责 PHI CHINA南京表面分析实验室的创建以及运行管理。
鞠焕鑫博士进行报告
在本报告中，鞠焕鑫博士讲述了能谱技术（XPS/UPS/LEIPS）的基本原理及其相关技术特点，重点讲解了数据处理过程包括谱图定量分析、化学态解析、谱图拟合以及UPS谱图分析能级排列等内容，并结合光电器件中的研究事例介绍了表面分析技术在材料组分/化学态、深度分析以及能级电子结构研究中的应用。光电器件中界面相互作用以及界面电子结构与器件性能之间构效关系的研究，是指导构建高效器件的重要研究内容。基于能谱技术的多项表面分析技术（XPS /UPS/LEIPS），可以提供包括芯能级、价带和导带的全面电子结构信息，同时结合多种溅射离子源实现对无机材料以及有机材料进行逐层解析的深度分析，将为光电器件表界面构效关系的研究提供强有力的技术支持。
光伏院研究生认真聆听报告
讲座最后进行了现场答疑环节，我院研究生积极提问，鞠博士逐一解答。此次学术讲座，使同学们对表面分析技术在光伏领域的应用有了更深入的认识，丰富了同学们的科研手段，为同学们今后的科学研究提供了帮助。
